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锡是关键金属资源之一，广泛用于电器、电子、化工等领域。锡石作为重要的富锡矿石矿物，主要存在于与花岗岩侵入体相关的热液石英脉型、伟晶岩型、云英岩型、矽卡岩型和冲击型的锡矿床中。准确限定锡矿床的成矿时代，对于充分了解其矿床成因、精细成矿过程、矿床分布规律以及进一步指导矿床的寻找和勘查起着重要作用。

锡石的U含量较低，通常含有流体包裹体和富普通铅（白钨矿、方铅矿、黄铁矿等）的包裹体，且锡石的化学性质较为稳定，常规的溶剂（盐酸、硝酸、氢氟酸）很难将其完全溶解。而传统同位素稀释–热电离质谱法（ID-TIMS）是一种整体分析方法，普通铅和包裹体的存在以及样品的不完全溶解对测试结果带来严重影响，使测试的成功率降低。同时，该方法的化学前处理流程较为复杂，测量单个样品所需的时间较长，这限制了该方法的推广与使用。

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS）具有高空间分辨率、高灵敏度、高分析效率及简便的样品制备流程等优点，能够有效地区分内部结构较为复杂的样品，并能够有效地避免裂隙或包裹体带来的干扰，是解决上述问题比较理想的解决方案。然而，该方法尚存在许多问题，其中，缺乏基体匹配的外部标准物质是限制激光微区分析方法广泛使用的主要原因。当前，可供使用的锡石微区原位U-Pb定年的标准物质较为稀少（AY-4、SPG和Yankee）。这些标准物质中，AY-4的锡石是迄今国际上使用最广泛的，但最新研究结果指出，该样品的年龄可能不均一，关于其年龄的均一性有待进一步检验。此外，SPG-Ⅳ和Yankee锡石虽然均报道了ID-TIMS年龄结果，但样品量较少（如SPG-Ⅳ），且含有一定量的普通铅（如Yankee），这会影响这些样品的广泛使用。目前，亟须研发更多可供广泛使用的锡石微区原位U-Pb定年的标准物质。

针对上述科学问题，中国科学院地质地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室博士研究生杨明与导师、正高级工程师杨岳衡正高级工程师，联合德国地学研究中心、中国地质调查局天津地质调查中心，建立了LA-SF-ICP-MS锡石微区原位U-Pb定年分析方法，对普通铅含量较低的样品进行了ID-TIMS分析（图1），研究成果如下：激光微区方法获得的结果与ID-TIMS方法获得的结果或与前人报道的同一地区的锆石、锡石或黑钨矿的U-Pb年龄一致（图2）；采用²⁰⁸Pb普通铅校正方法获得的结果与²⁰⁷Pb普通铅校正方法获得的结果在误差范围内保持一致（图2），通过对比不同Th/U比值条件下对²⁰⁸Pb校正结果带来的影响（图3c），充分证明²⁰⁸Pb校正方法的可靠性；探讨了钨的氧化物对²⁰²Hg、²⁰⁴Hg和²⁰⁴Pb的同质异位素干扰（图3a、b），报道了新的AY-4锡石ID-TIMS U-Pb年龄（154.3 ± 0.7 Ma，图1d），讨论了造成AY-4锡石年龄结果的差异的原因（图3d）；采用激光微区微量元素面扫分析方法，揭示了锡石中U、Pb的赋存状态以及与其他元素之间的关系（图4）。

该研究建立了锡石激光微区U-Pb定年方法，研发了新的锡石U-Pb定年标准物质，并展示了锡石激光微区U-Pb定年方法的应用前景与推广前景，为我国的锡矿床研究提供了基础技术支撑。相关研究成果发表在Chemical Geology（DOI：10.1016/j.chemgeo.2022.120754）上。研究工作得到国家自然科学基金及国家留学基金的支持。